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法国Phasics

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Phasics

波前传感器是一种设计用于进行光学波前测量的设备。术语“波前传感器”适用于不需要任何参考光束干扰的波前测量仪器,如Fizeau或Twyman-Green干涉仪。Shack-Hartmann和横向剪切干涉测量是用于制造波前传感器的两种主要技术。

波前传感器用于广泛的应用,如光学测试和对准(表面测量、透射波前误差测量、调制传递函数…)、激光和光学系统的自适应光学鉴定和控制、材料检测以及定量相位成像。大多数光子学相关行业都可以从波前传感中受益。


Phasics基于创新的高分辨率波前传感技术,提供全方位的波前测量系统和定量相位成像解决方案。Phasics公司独特的波前传感专利技术被称为四波横向剪切干涉术(QWLSI)。开发这项技术是为了克服Shack-Hartmann的局限性:它提供超高分辨率(高达852×720个测量点)、高灵敏度(亚纳米)和大动态范围(数百微米)。


产品系列

紫外波前传感器/波前分析仪

高分辨率波前传感器/波前分析仪

短波红外波前传感器/波前分析仪

双波段波前传感器/波前分析仪

KALEO套件支持从紫外至红外波段的全模块化光学计量解决方案

Kaleo MTF测量工作站
全自动镜头光学质量检测工作站

Kaleo MultiWAVE
多波长动态干涉仪

R-Cube光源模块
反射式双通路准直光源插件

SID4 sC8
基于sCMOS技术的定量相位成像相机

SID4 Bio
即插即用型定量相位成像相机

 

有关更多Phasics波前传感器 / 波前分析仪的信息,请联系深圳因诺尔科技有限公司销售人员。


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