波前分析仪/传感器

产品型号：SID4

所属品牌：Phasics

产品简介：法国Phasics提供各种系列的波前分析仪 / 波前传感器如：紫外波，短波红外，双波段等，具有高性价比和高分辨率等特点。

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Phasics基于创新的高分辨率波前传感技术，提供全方位的波前测量系统和定量相位成像解决方案。Phasics公司独特的波前传感专利技术被称为四波横向剪切干涉术（QWLSI）。开发这项技术是为了克服Shack-Hartmann的局限性：它提供超高分辨率（高达852×720个测量点）、高灵敏度（亚纳米）和大动态范围（数百微米）。

此外，Phasics的波前传感器结构紧凑、消色差且易于使用，这得益于它们即使在高度发散的光束上也能在没有中继光学器件的情况下进行直接测量。Phasics的核心能力是通过四波横向剪切干涉测量进行波前测量和分析。对于每个应用程序，专家软件包提供完整且相关的分析，以充分利用高分辨率波前测量。Phasics以客户为中心，致力于满足所有需求：其强大的研发团队不断开发创新功能，探索新的应用程序，并根据客户的要求定制标准配置。

Phasics波前传感器/波前分析仪参数指标

型号	波长范围	靶面尺寸	空间分辨率	取样分辨率	相位分辨率	绝对精度
SID4 UV HR 紫外波前传感器/波前分析仪	190~400nm	13.84 x 10.88 mm²	38.88 µm	355 x 280	1 nm RMS	10 nm RMS
SID4 高性价比高分辨率波前传感器/波前分析仪	400~1100nm	5.02 x 3.75 mm²	27.6 µm	182 x 136	< 2 nm RMS	10 nm RMS
SID4 HR 超高分辨率波前传感器/波前分析仪	400~1100nm	9.98 x 8.64 mm²	24 µm	416 x 360	< 2 nm RMS	20 nm RMS
SID4 SWIR HR 高分辨率短波红外波前传感器/波前分析仪	900~1700nm	9.60 x 7.68 mm²	60 µm	160 x 128	2 nm RMS	15 nm RMS
SID4 SWIR 高性价比短波红外波前传感器/波前分析仪	900~1700nm	9.60 x 7.68 mm²	120 µm	80 x 64	< 2 nm RMS	15 nm RMS
SID4 UHR 超高分辨率波前传感器/波前分析仪	400~1100nm	15.16 x 15.16 mm²	29.6 µm	512 x 512	<2 nm RMS	15 nm RMS
SID4 eSWIR 高分辨率扩展短波红外波前传感器	900~2350nm	9.60 x 7.68 mm²	120 μm	80 x 64	< 6 nm RMS	<40nm RMS
SID4 DWIR 双波段波前传感器/波前分析仪	300~500nm 800~1400nm	10.08 x 8.16 mm²	68 µm	160 x 120	25 nm RMS	75 nm RMS
SID4 HR V 高分辨率且真空兼容性至 10^-6毫巴	400~1100nm	4.73 x 3.55 mm²	29.6 µm	160 x 120	< 2 nm RMS	10 nm RMS
SID4 UV 高性价比高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪	250~400nm	7.4 x 7.4 mm²	29.6 µm	250 x 250	2 nm RMS	10 nm RMS